超精密製造ソリューション
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精密花崗岩製直角定規セット（アルミケース付き）
超精密製造においては、わずかな角度のずれでも深刻なアライメントエラーにつながる可能性があります。そのため、信頼性の高い基準直角定規は不可欠です。
ZHHIMG® 花崗岩製直角定規は、高密度の ZHHIMG® 黒色花崗岩 (≈3100 kg/m³) から製造され、経験豊富な技術者が手作業で丁寧にラッピングして、極めて正確な直角形状を実現しています。
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スタンド付き花崗岩検査プレート
機械加工や精密フィッティングアセンブリでは、高さ調節可能なスタンドと組み合わせて使用すると、花崗岩または鋳鉄製の定盤が安定した基準面としてだけでなく、高精度の 3 次元計測および製造環境の基礎要素としても機能します。
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高密度花崗岩測定プラットフォーム
ZHHIMG®花崗岩ベースは、卓越した密度と安定性を備え、高精度が求められる産業用途に最適です。堅牢な構造と耐久性の高い表面により、最も過酷な環境でも安定した性能を発揮します。
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精密花崗岩製直角定規
高度な機器の設置と試運転においてミクロンレベルの精度を追求するZHHIMGの花崗岩製角錐は、数十億年にわたる自然老化によって得られる卓越した安定性と極めて低い熱膨張係数を備え、CNC工作機械、半導体装置、三次元測定機において完璧な垂直性と真直度のベンチマークを提供します。高いモース硬度、非錆性、非磁性といった天然の特性により、複雑な組み立て環境においてもグレード00以上の精度を常に維持し、機器の精密な魂をゼロから構築するお手伝いをします。
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超精密花崗岩部品
新エネルギー検査のための剛性コア
サブミクロン製造の世界では、装置の性能は基礎の良し悪しに左右されます。ZHHIMG®は、Apple、Samsung、BoschといったFortune 500企業から信頼される、世界で最も安定したブラックグラナイトコンポーネントを提供しています。 -
花崗岩の直線定規
半導体およびハイテク製造において、寸法精度はミリメートル単位ではなくマイクロメートル単位で規定され、さらにナノメートル単位へと移行しつつあります。フォトリソグラフィー、ウェーハ欠陥検査、超精密組立といった重要なプロセスにおいては、計測部品のサブミクロンレベルの機械的変形でさえ、重大なプロセスドリフト、歩留まり低下、あるいはデバイス故障を引き起こす可能性があります。
ZHHIMG 花崗岩ストレート エッジは、安定性、熱不変性、幾何学的追跡可能性を備えた主要な参照標準として機能するように設計されており、精密な位置合わせと測定のための明確な基準を確立します。
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精密花崗岩検査プレート
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ISO9001 / ISO45001 / ISO14001認証
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CE準拠
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20以上の国際特許と商標
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100トンの単品加工能力
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最大加工長20m
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温度と湿度が管理された研削工場
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レーザー干渉計の検証
素材に妥協しません。
平面性には妥協しません。
当社は誠実さに妥協しません。精密製造では近道は許されません。
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精密な花崗岩の文字盤ベース
花崗岩定盤は、一般的には一枚の板として、あるいは精密に設計された支持台と一体化して使用され、寸法計測における主要な物理的基準として広く認められています。その卓越した寸法安定性、低い熱膨張係数、そして耐摩耗性と耐変形性により、校正ラボ、品質管理環境、そして高度な製造現場など、高精度測定アプリケーションにおいて、安定した不活性な基準面として不可欠な存在となっています。
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高精度花崗岩製機械ベースとアセンブリ
超精密製造の世界では、機械ベースの安定性が製品精度の限界を決定づけます。ZHHIMG®は、単なる石材にとどまらず、精密の「静かな守護者」とも言える花崗岩製の機械ベースと一体型アセンブリを提供しています。
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花崗岩の三角定規
実験室計測において、花崗岩の三角板は主要な参照標準として用いられます。寸法偏差を安定した高安定性の測定物と比較して評価する比較測定は、精密計測の基本原則を構成します。この観点から、花崗岩の板は金属製の測定ツールと比較して、優れた寸法安定性、熱慣性、および表面完全性を備えています。
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精密花崗岩定盤
ZHHIMG®による超安定計測リファレンスプラットフォーム
測定精度によって製品の品質が決まると、リファレンス プラットフォームの安定性が重要になります。
ZHHIMG® 精密花崗岩表面プレートは、寸法検査、校正、組み立て、高度な計測アプリケーション用の高精度データム参照として設計されています。この表面プレートは、当社独自の ZHHIMG® 高密度黒色花崗岩 (≈3100 kg/m³) から製造されており、大理石や低品質の石材の代替品をはるかに超える優れた寸法安定性、振動減衰、長期にわたる平坦性を実現します。
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セラミックストレートエッジ
花崗岩製直定規は、精密機械システムや半導体製造装置において、高安定性の参照基準として広く使用されています。その卓越した寸法安定性、低い熱膨張係数、そして優れた振動減衰特性により、装置の設置、試運転、定期点検における重要なアライメント、レベリング、そして幾何学的校正作業に不可欠なツールとなっています。