座標測定機の同軸度に影響を与える要因

座標測定機（CMM）は、機械、電子機器、計測機器、プラスチックなどの業界で広く使用されています。CMMは、複数の表面測定ツールや高価な複合ゲージを置き換えることができるため、寸法データの測定と取得に効果的な方法です。複雑な測定作業に必要な時間を数時間から数分に短縮できるため、他の測定機器では達成できない成果となります。

座標測定機に影響を与える要因: CMM 測定における同軸性に影響を与える要因。国家規格では、CMM の同軸性許容範囲は、直径許容差 t の円筒面内で、CMM のデータム軸と同軸な領域として定義されています。これには、1) 軸間、2) 軸と共通軸間、3) 中心間という 3 つの制御要素があります。2.5 次元測定における同軸性に影響を与える要因: 2.5 次元測定における同軸性に影響を与える主な要因は、測定対象要素とデータム要素の中心位置と軸方向、特に軸方向です。たとえば、データム円筒上の 2 つの断面円を測定する場合、接続線がデータム軸として使用されます。

測定対象の円筒上でも2つの断面円を測定し、直線を構築して同軸度を計算します。基準面上の2つの荷重面間の距離が10 mm、基準荷重面と測定対象の円筒の断面間の距離が100 mmであると仮定すると、基準面の2番目の断面円の中心位置が断面円の中心に対して5μmの測定誤差を持つ場合、基準軸は測定対象の円筒の断面まで延長された時点で既に50μm離れています（5μm×100：10）。このとき、測定対象の円筒が基準面と同軸であっても、2次元および2.5次元測定の結果には100μmの誤差が生じます（同じ公差値は直径、50μmは半径です）。