フラットパネルディスプレイ(FPD)の製造中に、パネルとテストの機能を確認して製造プロセスを評価するテストが実行されます。
配列プロセス中のテスト
配列プロセスでパネル関数をテストするために、配列テストは、アレイテスター、配列プローブ、プローブユニットを使用して実行されます。このテストは、ガラス基板上のパネル用に形成されたTFTアレイ回路の機能をテストし、壊れたワイヤやショーツを検出するように設計されています。
同時に、アレイプロセスでプロセスをテストしてプロセスの成功を確認し、前のプロセスをフィードバックするために、DCパラメーターテスター、TEGプローブ、プローブユニットがTEGテストに使用されます。 (「TEG」は、TFT、容量性要素、ワイヤー要素、およびアレイ回路のその他の要素を含むテスト要素グループの略です。)
ユニット/モジュールプロセスでのテスト
セルプロセスおよびモジュールプロセスでパネル関数をテストするために、照明テストが実行されました。
パネルがアクティブ化され、照明が照らされて、テストパターンを表示して、パネルの操作、ポイント欠陥、ライン欠陥、色素性、色異常(不均一性)、コントラストなどを確認します。
2つの検査方法があります。オペレーターの視覚パネル検査と、欠陥検出と合格/故障テストを自動的に実行するCCDカメラを使用した自動パネル検査です。
細胞テスター、セルプローブ、プローブユニットが検査に使用されます。
モジュールテストでは、ディスプレイのムラまたは不均一性を自動的に検出し、光が制御された補償でムラを排除するムラ検出および補償システムも使用します。
投稿時間:1月18日 - 2022年